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BTS-2002电池综合测试仪18650聚合物电池综合检测仪

点击图片查看原图
 
品牌: 深圳市宏大电子设备有限公司
电源电压: 220V50HZ
检测范围: 电池综合参数测试仪
外观尺寸: 300x300X100
单价: 面议
起订: 1 台
供货总量: 199 台
发货期限: 自买家付款之日起 1 天内发货
所在地: 广东 深圳市
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-02-18 16:37
浏览次数: 32
询价
 
公司基本资料信息
详细说明
 

BTS-2002电池综合测试仪所具有的基本功能包括:

        1.电池静态参数检测。

       1.1  电池电压检测(对于已经处于保护状态的锂电池,可自动唤醒)

       1.2  电池内阻检测

       1.3  电池可充电性能检测

       1.4  电池可放电性能检测

       1.5  电池过电流大小检测(仅针对锂电池)

       1.6  电池短路保护功能检测(仅针对锂电池)

       1.7  电池内部识别电阻1(或热敏电阻)检测

       1.8  电池内部识别电阻2(或热敏电阻)检测

       1.9  以上可检测数值大小的部分,可分别设定上限和下限加以筛选。

       1.10 对于通讯码片的电池可进行通讯码测试(目前仅针对DS2502兼容码片)

2.电池容量检测。

       针对所选择的电池类型和电池串联个数以及电池容量,自动选择合适的电压和电流,进行一次完整的充电和放电测试,在放电过程中,计算电池的真实容量,给电池的性能判别提供有力的参考依据。

3.可单独选择的电池充电功能。

       选择此项功能,本测试仪可以作为一个多功能的智能充电器使用,针对各种类型的各种组合方式可充电电池组充电(BTS-2004型号可对4节串联的锂电池,12串的镍氢电池,6串的免维护电池进行充电),方便了电池使用和测试的方便,在充电的同时,实时显示充电时间,以及己经充入的量(以mAH为单位显示)。

4.可单独选择的电池放电功能。

       选择此项功能,本测试仪可以单独对一个电池作放电,同时控制放电截止电压,避免了通常采用电子负载或者电阻放电带来的容易过放电的弊端,非常方便的适合工厂对电池产品的测试,操作也很方便,只需要选择电池类型,电压和容量就可以启动智能放电程序,对电池进行放电操作。

5.数控电流电压源功能。

       选择此项功能,本仪器可作为一台精密数控直流电源使用,输出20V(BTS-2004)l0V (BTS-2002),输出2A的直流电源,可以直接设定

       输出电压和限制电流,可以很方便的用在电池充电、测试,以及给其他设备供电的功能,扩大的仪器的适用范围。

6.数控电子负载功能。

       选择此项功能,本仪器可作为一台精密电子负载使用,可以设定工作在恒流、恒压、恒电阻、以及恒功率模式下运行,在恒压之外的运行模式下,还可以定截止电压(cut off),以方便电池的放电测量,可以让负载电压低于设定截止电压的时候,自动切断工作电流,避免电池的深度放电对电池的损害。除外,也可以将本仪器用于其他需要电子负载的场合,如充电器测试,开关电源的老化测试等等。 

测试完成提示信息说明:

      TEST Complete: OK           表示测试完成,各项参数满足要求

      TEST Fail:     VOL LOW      表示测试出错,电压偏低

      TEST Fail:     VOL HIGH     表示测试出错,电压偏高

      TEST Fail:     IMP LOW      表示测试出错,内阻偏低

      TEST Fail:     IMP HIGH     表示测试出错,内阻偏高

      TEST Fail:     CHARGE ERR   表示测试出错,充电功能故障

      TEST Fail:     DISCHR ERR   表示测试出错,放电功能故障

  TEST Fail:     OVC LOW      表示测试出错,过流保护电流偏低

      TEST Fail:     OVC HIGH     表示测试出错,过流保护电流偏高

      TEST Fail:     R1 LOW       表示测试出错,识别电阻1阻值偏低

      TEST Fail:     R1 HIGH      表示测试出错,识别电阻I阻值偏高

      TEST Fail:     R2 LOW       表示测试出错,识别电阻2阻值偏低

      TEST Fail:     R2 HIGH      表示测试出错,识别电阻2阻值偏高

      TEST Fail:     ID ERROR     表示测试出错,通讯码片测试不通过。

      TEST Fail:     SHORT ERR    表示测试出错,短路保护功能不正常

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